扫描电镜的Z方向调节对焦有何技巧？

扫描电镜（SEM）中，Z方向调节即样品台的上下移动，直接影响样品表面与电子枪之间的工作距离（WD, working distance），对焦的准确性和成像质量高度依赖这个参数。

扫描电镜中真空度不够会产生什么影响？

扫描电镜（SEM）工作时对真空度要求较高，若真空度不够（即腔室压力偏高），会对成像质量和设备运行产生一系列不良影响。

样品表面污染会显著影响扫描电镜（SEM）成像质量，具体表现和影响如下：

使用扫描电镜（SEM）观察样品在某些情况下确实可能造成样品损伤。这种损伤取决于样品的材质、电导率、结构稳定性、电子束参数等。

扫描电镜（SEM）成像过程中出现的伪影（artifact）是影响图像质量和判读准确性的重要问题。

在扫描电子显微镜（SEM）中，扫描速度指的是电子束在样品表面每个像素上停留的时间，通常通过设置“帧时间”或“像素驻留时间”来调节。

扫描电镜（SEM）中的“电荷积聚”（Charging）现象是指非导电样品在电子束照射下无法及时释放电荷，导致电子在样品表面积累。

要保存高质量的扫描电镜（SEM）图片，需要从拍摄参数、文件格式、后期处理和存储管理等方面进行系统优化。