扫描电镜的电荷补偿技术如何优化图像质量？

扫描电子显微镜（SEM）的电荷补偿技术用于解决样品在电子束照射下可能产生的电荷积累问题，这种电荷积累会导致图像失真、对比度降低或图像模糊。

如何在扫描电镜中进行原位拉伸实验

在扫描电子显微镜（SEM）中进行原位拉伸实验是一种用于观察材料在受力条件下的微观结构和行为技术。

在扫描电子显微镜（SEM）中，伪影（artifacts）是图像中由于非样品原因而出现的假象或失真，这些伪影可能干扰对样品的正确分析和解释。

在扫描电子显微镜（SEM）中，大面积成像通常需要将多个相邻的小区域图像拼接在一起，这样可以获得更大视野的高分辨率图像。

在扫描电镜（SEM）中，实现高对比度成像对于清晰地展示样品的结构和细节至关重要。

在扫描电镜（SEM）成像中，充电效应是非导电样品表面积累电荷导致图像质量下降的一种常见现象。

在扫描电子显微镜（SEM）成像过程中，对比度的调整对于获得清晰、细节丰富的图像至关重要。

减少扫描电子显微镜（SEM）中的电子束损伤对于保持样品的结构和化学成分完整性至关重要，尤其是在研究敏感材料时。