如何在扫描电镜中优化样品的电荷补偿

在扫描电镜（SEM）中，优化样品的电荷补偿非常重要，以确保图像质量和准确性。

如何在扫描电镜中减少样品的电子束损伤

在扫描电镜（SEM）中减少样品的电子束损伤可以通过以下几种方法实现：

扫描电子显微镜（SEM）的冷却台（也称为冷台或冷冻台）是专门设计用于观察温度敏感样品的一种附件。

在扫描电子显微镜（SEM）中，高真空（High Vacuum, HV）和低真空（Low Vacuum, LV）模式的切换是为了适应不同样品的成像需求。

在扫描电子显微镜（SEM）中，焦点合成（Focus Stacking）是一种提高图像景深的方法，特别适用于观察样品具有较大高度差的复杂表面。

在扫描电子显微镜（SEM）中进行高分辨率的断层扫描（通常称为Serial Block-Face Imaging或FIB-SEM断层扫描）是获取样品内部结构的关键技术。

在扫描电子显微镜（SEM）中实现高分辨率的表面刻画涉及多方面的优化，包括样品准备、显微镜设置和操作技巧。

在扫描电子显微镜（SEM）中，聚焦调节对图像质量有显著影响。