如何在扫描电镜中处理低导电性的样品

在扫描电子显微镜（SEM）中，低导电性的样品通常会引发一系列问题，主要是由于电子束与样品相互作用时产生的电子无法有效地从样品中逸出，导致样品表面积累电荷。

扫描电镜如何分析样品表面的化学成分

在扫描电子显微镜（SEM）中，分析样品表面的化学成分通常依赖于能量色散X射线光谱（EDS 或 EDX）或波长色散X射线光谱（WDS）等附加检测器。

在扫描电子显微镜（SEM）中，工作距离（Working Distance, WD）是指样品表面到物镜（聚焦透镜）的距离。

在扫描电子显微镜（SEM）中，测量颗粒的大小和分布通常需要结合图像采集和后期图像处理分析。

在扫描电子显微镜（SEM）中，表面粗糙度的测量可以通过以下几种方式实现。

优化扫描电子显微镜（SEM）的焦距以获得清晰图像是操作SEM时的一个关键步骤，通常包括以下几个方面的操作和调整：

通过扫描电子显微镜（SEM）检测样品的孔隙结构是研究材料微观结构的重要手段，特别适用于多孔材料、岩石、催化剂、陶瓷、聚合物等样品。

在扫描电子显微镜（SEM）中检测样品表面的微裂纹，是研究材料表面缺陷的重要手段。