扫描电镜的样品尺寸限制是什么

扫描电子显微镜（SEM）的样品尺寸限制主要受到以下几个因素的影响：

扫描电镜中的焦深如何影响图像质量？

在扫描电子显微镜（SEM）中，焦深（Depth of Field，DOF）是指电子显微镜能够清晰成像的样品表面区域的深度范围。

扫描电镜（SEM）对样品表面粗糙度的敏感度较高，尤其在观察较小的细节和表面特征时。

扫描电镜（SEM）非常适合用于观察样品的表面缺陷，尤其是在纳米级别的缺陷上。扫描电镜通过电子束与样品表面相互作用生成图像，可以清晰地显示出表面形貌、微小裂纹、气孔、腐蚀痕迹、加工痕迹等缺陷。

扫描电镜（SEM）与样品的电导性密切相关。样品的电导性会影响电子束与样品表面相互作用的方式，从而影响成像质量和样品的观察效果。

在扫描电镜（SEM）中，电荷积累是指电子束照射到非导电样品表面时，电子无法从样品表面逸出，导致表面带电，影响图像质量和分析结果。

在扫描电镜（SEM）中，样品的观察角度对成像质量和样品的分析结果有重要影响。

扫描电镜（SEM）中的真空环境对样品的影响是一个重要因素，因为扫描电镜在工作时需要在高真空或超高真空环境下进行成像。