扫描电镜中如何避免或解决样品的电荷积累问题？

在扫描电镜（SEM）中，样品的电荷积累（也称为静电积累）是一个常见的问题，特别是当样品是非导电性或导电性差时。

扫描电镜中的电子束和样品间的相互作用是如何影响成像的？

扫描电镜（SEM）中的电子束与样品之间的相互作用是影响成像质量的关键因素。

在扫描电镜（SEM）中，导电性差的样品（如非金属或高电阻材料）会导致成像问题，特别是由于静电积累。

在扫描电镜 (SEM) 中，分辨率和视场大小的平衡是显微成像的重要考量。

在扫描电镜 (SEM) 中，电子束散射对成像效果有显著影响，尤其是在分辨率、图像对比度和信噪比等方面。

扫描电子显微镜（SEM）的分辨率在很大程度上受到电子束条件的影响。电子束的加速电压、束斑直径、探测器类型、束流强度等参数都会直接或间接地影响成像效果和分辨率。

在扫描电子显微镜（SEM）中，低导电材料的成像效果常常会受到样品充电效应的影响。

在扫描电镜（SEM）中进行晶体学分析和取向图谱（Orientation Map）测量，通常需要使用电子背散射衍射（EBSD）技术。