扫描电镜导电和不导电样品处理方法的区别

扫描电镜中，导电和不导电样品的处理方法有根本性的区别，核心原因在于如何应对 “电荷积累” 问题。

扫描电镜的放大倍数是怎么实现的？

扫描电镜的放大倍数实现方式与传统光学显微镜有根本性的不同，它并不是通过透镜的组合来“放大”图像。

扫描电镜（SEM）图像出现整体或局部发白，通常意味着信号过强、表面带电、或探测设置异常。

在扫描电镜拍摄中，样品是否需要导电，取决于样品的材质、观察模式和显微镜类型。

在扫描电镜拍照过程中出现拖影，通常表现为图像边缘模糊、结构拉伸或重复阴影，这种现象往往与样品、电子束或扫描设置有关。

在扫描电子显微镜（SEM）中，正确找到焦点（焦平面）是获得清晰图像的关键步骤。

在扫描电镜成像过程中，焦距是否正确直接影响图像的清晰度与分辨率。判断焦距是否合适并不单靠自动对焦功能，更需要操作者根据图像特征进行观察和微调。

在扫描电镜成像中，样品是否位于正确的焦平面，直接决定图像的清晰度和细节分辨率。