如何判断扫描电镜图像中的条纹是否为干扰？

判断扫描电镜（SEM）图像中的条纹是否为干扰（artifact），可以从以下几个方面着手分析：

为什么扫描电镜EDS谱图中会出现假峰或伪峰？

扫描电镜（SEM）中的能谱分析（EDS）中出现假峰（artifact peaks）或伪峰（spurious peaks），可能由以下几类原因引起：

在扫描电子显微镜（SEM）中，非导电样品（如聚合物、陶瓷、生物材料等）容易出现充电效应，导致图像发亮、偏移、拉伸、失真甚至无法成像。

判断扫描电镜（SEM）是否需要重新调焦，可以通过以下几个方法和信号来判断：

在扫描电镜（SEM）中，调节样品台倾斜角度的作用主要有以下几点：

在扫描电镜（SEM）成像时，如果图像对比度太低，可以通过以下方法调整改善：

扫描电镜（SEM）使用时如果电源不稳定，会对成像产生一系列直接且显著的负面影响，主要体现在以下几个方面：

扫描电镜（SEM）图像出现亮度不均，一般说明系统内部或操作设置上出现了问题。