为什么样品在扫描电镜下容易充电？如何避免？

在扫描电子显微镜（SEM）下，样品容易发生充电效应（charging effect），主要原因是：

扫描电镜的电子束斑尺寸如何影响成像质量？

扫描电镜（SEM）的电子束斑尺寸（Beam Spot Size）对成像质量有直接影响，主要涉及分辨率、信噪比和成像清晰度。

调整扫描电镜（SEM）的电子束电流（Beam Current）可以影响成像的分辨率、信噪比和样品损伤程度。

提高扫描电镜（SEM）成像的对比度有助于增强细节和样品结构的可见性，尤其是在观察微小或复杂结构时。

扫描电镜（SEM）样品台的倾斜角度对成像效果有重要影响，主要体现在以下几个方面：

2025年3月29日-31日，2025年第二届原子级制造论坛将在北京市举办。

在扫描电镜（SEM）成像中出现条纹或噪声可能会影响图像质量，常见的条纹和噪声类型及其可能原因如下：

扫描电镜（SEM）的标定（Calibration）主要用于确保测量的准确性，包括尺寸测量、放大倍率、电子束偏转等。