非导电样品如何在扫描电镜中成像?
非导电样品在扫描电镜(SEM)中成像时会面临一个主要问题:电荷积累(charging)。因为电子束轰击非导体后,电子无法迅速导出,导致样品表面积累负电荷,从而产生图像漂移、亮度不均甚至成像失败。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-15
非导电样品在扫描电镜(SEM)中成像时会面临一个主要问题:电荷积累(charging)。因为电子束轰击非导体后,电子无法迅速导出,导致样品表面积累负电荷,从而产生图像漂移、亮度不均甚至成像失败。
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扫描电镜(SEM)中,Z方向调节即样品台的上下移动,直接影响样品表面与电子枪之间的工作距离(WD, working distance),对焦的准确性和成像质量高度依赖这个参数。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-15
扫描电镜(SEM)工作时对真空度要求较高,若真空度不够(即腔室压力偏高),会对成像质量和设备运行产生一系列不良影响。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-14
样品表面污染会显著影响扫描电镜(SEM)成像质量,具体表现和影响如下:
MORE INFO → 行业动态 2025-05-14
使用扫描电镜(SEM)观察样品在某些情况下确实可能造成样品损伤。这种损伤取决于样品的材质、电导率、结构稳定性、电子束参数等。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-13
扫描电镜(SEM)成像过程中出现的伪影(artifact)是影响图像质量和判读准确性的重要问题。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-13
在扫描电子显微镜(SEM)中,扫描速度指的是电子束在样品表面每个像素上停留的时间,通常通过设置“帧时间”或“像素驻留时间”来调节。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-12
扫描电镜(SEM)中的“电荷积聚”(Charging)现象是指非导电样品在电子束照射下无法及时释放电荷,导致电子在样品表面积累。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-12