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当扫描电镜（SEM）图像变亮或出现过曝现象时，说明图像中部分区域亮度过高，导致细节丢失、图像偏白或泛光。造成这种现象的原因多种多样，以下是常见原因及对应的处理方法：

常见原因及处理方法

1. 电子束电流过高

原因：电子束电流设置太大，信号强度过强，图像亮度异常。

处理：适当调低 电子束电流（Beam Current） 或 **亮度（Brightness）设置。

2. 探测器增益设置过高

原因：二次电子探测器或背散射探测器的增益（Gain）过高。

处理：降低探测器增益或对比度设置，避免图像信号被放大过多。

3. 工作距离不当

原因：工作距离（WD）过近导致信号强度集中，成像局部过亮。

处理：适当增加工作距离，使电子束在样品上的扫描范围更合理。

4. 样品带电

原因：非导电样品未喷金或接地不好，电荷积聚导致电子束散射不均匀，局部放电发亮。

处理：

预先喷镀一层导电材料（如金、碳）；

使用低真空模式或环境 SEM；

在样品背面用导电胶接地。

5. 曝光时间过长（Slow scan）

原因：长时间扫描可能造成部分像素过曝。

处理：选择适中或快速扫描模式，避免局部区域曝光过度。

6. 样品局部高反射/高原子序

原因：金属颗粒或高原子序元素区域反射信号强，造成图像局部过亮。

处理：

适当降低放大倍率查看整体结构；

或使用背散射电子图像代替观察。