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当使用扫描电镜（SEM）观察非导电样品（如生物样本、陶瓷、高分子材料等）时，样品带电可能导致图像模糊、偏移、亮度不均或漂移。以下是成因分析和有效的避免方法：

一、成因：为什么样品会带电？

扫描电镜使用电子束照射样品，若样品为非导电或低导电材料，电子无法及时流走，便会在表面堆积，产生电荷积累。这会：

干扰电子束路径，造成图像漂移或模糊；

引起亮度忽明忽暗；

使图像出现“条纹”、“阴影”或“镜面效应”。

二、如何避免样品带电造成的成像问题？

1. 对样品进行金属喷镀

常用且有效的方法：

在样品表面喷一层金属导电层，如金（Au）、铂（Pt）、碳（C）等；

常使用离子溅射仪或真空蒸镀仪；

金属层厚度一般为几纳米至几十纳米，不影响细节成像。

2. 使用低电压（低加速电压）成像

将加速电压调低至 1–5 kV，可以降低电子束穿透深度，减少电荷积累；

适用于表面观察，减少样品损伤。

3. 使用环境扫描电镜（ESEM）或低真空模式

部分 SEM 支持 低真空或变量压模式（如 ESEM）；

环境中微量气体可中和电子，减少带电；

可直接观察非导电样品，无需喷镀。

4. 接地处理

若样品形状规则、易于接触，建议将样品表面接触导电胶（如碳胶、银胶）；

与样品台金属形成良好电连接，使电荷可导出。

5. 减少电子束照射时间

缩短曝光时间；

避免在同一区域停留过久，减少电子积聚。

6. 使用导电膜覆盖

对特殊样品（如某些湿样或柔软材料），可采用一层导电聚合物膜或碳膜覆盖；

不损伤样品同时提供导电通道。