中文
English

扫描电镜（SEM）的放大倍数对图像质量有直接而明显的影响，它不仅决定了图像呈现的 细节程度，也会影响 亮度、清晰度、景深 等成像质量指标。可以从以下几个方面来分析：

1. 分辨率与细节显示

低放大倍数

适合观察大范围的表面形貌和整体结构。

图像细节有限，无法显示纳米级或亚微米级特征。

高放大倍数

可揭示微小颗粒、晶界、缺陷等细节。

但成像对样品导电性、表面平整度、电子束稳定性要求更高。

2. 噪声与信噪比

低倍时，电子束扫描面积大，信号收集相对均匀，信噪比好，图像更稳定。

高倍时，电子束聚焦到小区域，信号强度下降，更容易出现噪点和图像噪声。

3. 景深

低倍成像：景深大，样品表面高低起伏仍能整体清晰成像。

高倍成像：景深减小，只有电子束焦点所在平面清晰，样品稍有起伏就可能导致部分区域模糊。

4. 亮度与对比度

随着放大倍数升高，扫描区域缩小，收集到的二次电子数量减少，图像亮度下降，需要调节放大器增益或探测器参数。

高倍下表面微结构的对比度增强，但过度放大可能导致对比度过低而模糊。

5. 操作与限制

过高放大倍数可能超过样品表面的实际分辨率极限，导致“放大模糊”，图像细节并没有真实增加。

样品如果导电性不足或表面粗糙，高倍下更容易出现充电效应和图像漂移模糊。