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判断扫描电镜（SEM）图像中的条纹是否为干扰（artifact），可以从以下几个方面着手分析：

1. 条纹方向是否与扫描方向一致？

条纹平行于扫描线（横向）：很可能是电子束扫描系统的干扰，如振动、电源噪声或扫描偏转不稳定。

条纹垂直于扫描线（纵向）：可能是样品充电、样品形貌引起的扫描信号响应异常。

2. 多次拍摄是否复现条纹？

固定位置、多次成像都有条纹：可能是样品本身问题（如表面结构、污染物、刻蚀痕）。

换区域或旋转样品后条纹消失或改变方向：更可能是系统干扰。

3. 样品导电性是否良好？

非导电样品、未镀膜：容易因电荷积累产生条纹、亮带或漂移。

可尝试低压观察或对样品表面进行导电涂层处理（如金、碳镀膜）。

4. 设备状态是否稳定？

检查以下是否存在问题：

电源稳定性（尤其是扫描偏转电源）；

真空系统不稳定；

线缆接触不良；

外部电磁干扰（如邻近电机、电焊、空调等设备）。

5. 条纹是否规律重复？

周期性规则条纹：可能是电子枪、偏转系统或信号采集系统受到周期性噪声干扰。

随机不规则条纹：更可能是电子束不稳定、样品静电或环境干扰。

简单判断步骤总结：

换样品区域/旋转样品观察条纹是否变化；

调节扫描速度看看条纹是否增强/减弱；

检查样品导电性是否良好，有无充电效应；

查看系统接地和周边干扰源；

拍摄不同倍率/不同电压图像，比较条纹响应。