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当扫描电镜（SEM）样品尺寸太大，无法直接放入样品仓或样品台时，可以采取以下几种方法应对，确保安全、成像清晰且设备不受损：

一、判断“太大”的具体问题在哪：

样品仓空间不足

样品太高或太宽，装不进 SEM 的样品室。

样品台行程限制

就算勉强放得下，也可能无法移动、旋转、倾斜观察。

电子枪距离样品过近

导致无法聚焦，甚至撞击探头或喷嘴。

二、解决方法

1. 对样品进行裁切或分段取样

若样品可破坏处理，建议切取其中具有代表性的一小块进行观察；

使用切割机、磨片机等工具，保留感兴趣区域。

2. 调整安装方式

将样品侧放、斜放、倒放，尝试不同角度安装；

使用特制夹具或底座适配非标准尺寸；

部分 SEM 样品台可调节高度，尝试降低平台或使用薄载物盘。

3. 使用断面观察方式

对大型样品切取横截面或表面层，便于分析内部结构或表面涂层。

4. 升级或更换样品舱配件

一些 SEM 提供大样品腔体或定制腔体，可更换腔门或支架适应大型样品；

或联系厂家获取更大尺寸适配件。

5. 使用台式 SEM

某些台式 SEM支持更宽松的样品空间设计；

适合对小区域进行快速观察，适应性较好。

6. 必要时借助非接触成像设备

若样品无法切割、且尺寸超限，可考虑光学显微镜、激光扫描显微镜等作为补充手段。