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判断扫描电镜（SEM）是否需要重新调焦，可以通过以下几个方法和信号来判断：

一、图像质量变化

图像模糊

如果图像出现模糊或不清晰的现象，即使在适当的电流和加速电压下，通常是焦点不准的表现。特别是在成像时无法看到细节或有明显的阴影。

边缘不清晰

扫描电镜的焦点不准时，样品的边缘会变得模糊或不锋利，难以分辨细小的结构。

图像对比度降低

失焦可能导致图像的对比度不如正常时明显，细节缺失或无法区分样品的不同部分。

层次感下降

扫描电镜需要通过精确的焦距来获得样品表面的三维信息。如果焦距偏离，可能导致表面形态不清晰或立体感不足。

二、样品特性变化

焦点漂移

如果在长时间成像过程中，图像的清晰度不断下降，可能是焦点漂移导致的。通常需要重新校准焦距。

层间对比度变化

对于较复杂或多层的样品，焦距不准会影响层间的对比度，使得不同层次之间的区分变得困难。

三、操作过程中出现的问题

扫描过程中出现"散射"或"模糊"

在较低放大倍率下，如果图像显示正常但在高放大倍率下图像变得模糊，可能是焦点失准所致。

点像散射

如果发现图像中出现明显的圆形散点或亮斑，可能是样品表面或内部的聚焦不准确。

四、通过实际操作判断

焦点校准（Adjust Focus）

进入SEM的焦点调整模式，尝试微调焦点。若图像迅速变得更清晰或者更加模糊，则说明焦点需要重新调整。

利用电子束扫描小物体

通过扫描已知细节明确的小物体（例如细微颗粒、裂缝等），检查是否能获得高质量的清晰度和细节。如果不清晰，可能是焦距不合适。

检查图像清晰度曲线

一些SEM设备提供焦距校准功能，可以通过查看图像清晰度随焦距的变化来确定是否需要重新调焦。

五、其他判断方法

调节电流时的响应

调整探针电流（束流强度）时，如果焦点不正确，图像的亮度和对比度可能变化不规律。

使用标准样品

使用已知的标准样品（如标准微米颗粒）进行测试，观察图像是否能清晰呈现。如果无法清晰显示标准样品的细节，则说明可能需要重新调焦。