电镜进校园┃泽攸科技携手西南交通大学子弟小学助力科普教育

5月30日，西南交通大学子弟小学科创节暨第二届桥梁模型比赛，在洋溢着欢乐气息的校园里拉开序幕，西南交通大学子弟小学里的孩子们兴高采烈地展示着自己的创意作品。

扫描电镜什么时候用到硅片

在扫描电子显微镜（SEM）分析中，硅片常用于以下几种情况：

对于非导电样品，扫描电子显微镜（SEM）分析通常需要进行导电处理，以防止在电子束照射下产生电荷积累，导致图像失真或漂移。

扫描电子显微镜（SEM）可以结合能量色散X射线光谱（EDS或EDX）来进行成分分析。

测量扫描电子显微镜（SEM）图像中的直径需要一些特定的步骤和工具。

扫描电镜（SEM）图像的大小受到样品与电子枪之间的距离（工作距离）的影响。这是由于SEM的工作原理决定的。

扫描电镜（SEM）图像变形通常可以通过以下方法进行调整：

分析扫描电镜（SEM）图像中的粒径大小通常需要借助图像处理和分析软件。以下是一种常见的方法：