扫描电镜的真空度介绍

扫描电子显微镜（SEM）的真空度是非常重要的参数，它直接影响电子束的传播和样品的成像质量。

扫描电镜怎么调节焦距

在扫描电子显微镜（SEM）中，调节焦距是获取清晰图像的关键步骤。焦距调节主要是通过控制工作距离（Working Distance, WD）和物镜焦距（Objective Focus）来实现的。

扫描电子显微镜（SEM）结合能量色散X射线光谱（EDS或EDX）技术，能够提供多种成分分析功能。

在扫描电子显微镜（SEM）分析中，硅片常用于以下几种情况：

对于非导电样品，扫描电子显微镜（SEM）分析通常需要进行导电处理，以防止在电子束照射下产生电荷积累，导致图像失真或漂移。

扫描电子显微镜（SEM）可以结合能量色散X射线光谱（EDS或EDX）来进行成分分析。

测量扫描电子显微镜（SEM）图像中的直径需要一些特定的步骤和工具。

扫描电镜（SEM）图像的大小受到样品与电子枪之间的距离（工作距离）的影响。这是由于SEM的工作原理决定的。