扫描电镜如何处理导电性较差的样品？

在扫描电镜（SEM）中，导电性差的样品（如非金属或高电阻材料）会导致成像问题，特别是由于静电积累。

扫描电镜的分辨率和视场大小如何平衡？

在扫描电镜 (SEM) 中，分辨率和视场大小的平衡是显微成像的重要考量。

在扫描电镜 (SEM) 中，电子束散射对成像效果有显著影响，尤其是在分辨率、图像对比度和信噪比等方面。

扫描电子显微镜（SEM）的分辨率在很大程度上受到电子束条件的影响。电子束的加速电压、束斑直径、探测器类型、束流强度等参数都会直接或间接地影响成像效果和分辨率。

在扫描电子显微镜（SEM）中，低导电材料的成像效果常常会受到样品充电效应的影响。

在扫描电镜（SEM）中进行晶体学分析和取向图谱（Orientation Map）测量，通常需要使用电子背散射衍射（EBSD）技术。

扫描电镜（SEM）的真空系统在图像质量方面起着至关重要的作用，主要通过以下几个方面影响图像的清晰度、对比度以及噪声水平。

在扫描电镜（SEM）中，光束扫描和机械扫描是两种用于扫描样品并生成图像的不同方式。