中文
English

样品在扫描电子显微镜（SEM）中的放置角度确实会影响获得的图像质量和信息。具体影响主要体现在以下几个方面：

信号强度和对比度变化

SEM 的电子束垂直照射样品表面时，反射电子（反射电子成像）和二次电子（形貌成像）信号通常更强，图像对比度较好。如果样品倾斜角度较大，电子束入射角变斜，信号强度可能减弱，导致图像对比度降低或细节不清晰。

形貌和立体感的表现

适当倾斜样品（比如通常倾斜 30° 或 45°）可以增强表面立体感，因为二次电子信号受表面粗糙度和角度影响较大。这种倾斜常用于观察断口、断层、刻蚀结构等，有助于获得更明显的三维形貌信息。

几何畸变和尺寸测量误差

样品放置角度不垂直于电子束时，图像会产生几何投影畸变，测量尺寸时需要校正倾斜角度，否则得到的尺寸数据会偏大或偏小。

元素分析信号的影响

在做能谱（EDS）分析时，样品角度会影响X射线的产生和探测效率，倾斜过大会导致信号减弱或不均匀，从而影响元素定量分析的准确性。

避免阴影效应

如果样品角度摆放不当，特别是高大结构或凸起部分，会在电子束照射下产生阴影，导致图像部分区域信号缺失或变暗。