扫描电镜怎样获得样品的成分信息？

在扫描电镜（SEM）中获取样品成分信息，主要通过能谱仪（EDS）和背散射电子（BSE）成像实现。

扫描电镜能看什么类型的样品？

扫描电镜（SEM）能够观察多种类型的样品，但其制备要求和成像效果因样品性质（导电性、耐电子束能力、含水量等）而异。

当扫描电镜（SEM）开机后电子束无法对中时，可按以下步骤系统排查和调整：

扫描电镜（SEM）对样品尺寸和厚度的限制主要取决于其腔室设计、样品台承载能力、探测器类型以及电子束穿透深度等因素。

样品在进入扫描电镜（SEM）观察之前，为确保图像质量和避免损伤，通常需要进行适当的前处理。

判断样品表面是否被扫描电镜的电子束烧蚀，通常可从图像特征、操作变化及后处理观察中综合分析。

判断扫描电镜（SEM）图像中的条纹是否为干扰（artifact），可以从以下几个方面着手分析：

扫描电镜（SEM）中的能谱分析（EDS）中出现假峰（artifact peaks）或伪峰（spurious peaks），可能由以下几类原因引起：