扫描电镜中的“电荷积聚”现象怎么解决?
扫描电镜(SEM)中的“电荷积聚”(Charging)现象是指非导电样品在电子束照射下无法及时释放电荷,导致电子在样品表面积累。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-12
扫描电镜(SEM)中的“电荷积聚”(Charging)现象是指非导电样品在电子束照射下无法及时释放电荷,导致电子在样品表面积累。
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要保存高质量的扫描电镜(SEM)图片,需要从拍摄参数、文件格式、后期处理和存储管理等方面进行系统优化。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-09
扫描电镜(SEM)中样品表面放电(充电效应)会严重干扰成像,表现为亮斑、图像扭曲或闪烁。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-09
在扫描电镜(SEM)中获取样品成分信息,主要通过能谱仪(EDS) 和 背散射电子(BSE)成像 实现。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-08
扫描电镜(SEM)能够观察多种类型的样品,但其制备要求和成像效果因样品性质(导电性、耐电子束能力、含水量等)而异。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-08
当扫描电镜(SEM)开机后电子束无法对中时,可按以下步骤系统排查和调整:
MORE INFO → 行业动态 2025-05-07
扫描电镜(SEM)对样品尺寸和厚度的限制主要取决于其腔室设计、样品台承载能力、探测器类型以及电子束穿透深度等因素。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-07
样品在进入扫描电镜(SEM)观察之前,为确保图像质量和避免损伤,通常需要进行适当的前处理。
MORE INFO → 行业动态 2025-05-06