扫描电镜样品需要烘干处理吗？

是否需要烘干处理取决于样品的材质、含水量以及扫描电镜（SEM）模式。

非导电样品在扫描电镜下如何成像？

非导电样品在扫描电镜（SEM）下成像时，由于电子束轰击样品会导致电荷积累，进而产生充电效应，这可能导致图像畸变、漂移甚至无法成像。

在扫描电镜（SEM）成像过程中，样品需要稳定固定在样品台上，以避免成像时的漂移、振动或充电效应。

扫描电镜（SEM）的空间分辨率通常通过以下几种方法进行测定：

使用扫描电子显微镜（SEM）进行纳米级观察时，需要特别注意以下几个关键因素，以确保高分辨率成像、准确分析，并减少可能的误差或伪影。

要提高扫描电子显微镜（SEM）的成像速度，同时保持较高的分辨率，需要综合优化电子束参数、扫描方式、探测器设置和信号处理。

在扫描电镜（SEM）成像过程中，漂移会导致图像模糊、细节丢失，特别是在高倍率和长曝光时间下尤为明显。

普通的扫描电子显微镜（SEM）不能直接观察湿样品，因为 SEM 需要高真空环境来防止电子束散射，而湿样品中的水分在真空中会迅速蒸发，导致样品形态变化甚至损坏。