如何在扫描电镜中设置长时间扫描以减少图像伪影

在扫描电子显微镜（SEM）中，长时间扫描是一种有效减少图像伪影（artifacts）的方法。

扫描电镜如何帮助分析样品的断裂面

扫描电子显微镜（SEM）是分析样品断裂面的强大工具，通过其高分辨率的成像能力，结合多种分析技术，能够详细研究断裂机制、材料的微观结构以及断裂模式。

多电压成像（multi-voltage imaging）是扫描电子显微镜（SEM）中一种技术，通过在不同的加速电压下对同一位置进行成像，来获得更多的样品信息。

处理和观察非导电样品是台式扫描电镜（SEM）中的一个常见问题，因为传统的SEM通常需要样品具有一定的导电性才能获得良好的图像质量。

在台式扫描电镜中观察高温样品是一项挑战性的任务，需要特定的样品支持和操作技术。

ZEM系列台式扫描电镜的使用为研究提供了重要的视觉证据，帮助研究人员理解PLT如何影响材料的表面特性，这些特性的变化直接关联到材料的光学和电物理性能。

提高扫描电镜清晰度的方法包括：

扫描电镜的工作距离（Working Distance, WD）是指从样品表面到物镜下端的距离。