扫描电镜工作时镜筒内的一般真空度要求

扫描电镜（SEM）工作时镜筒内的真空度是确保电子束正常传输和样品表面电子散射检测的重要因素。

扫描电镜图像粗糙程度分析

在扫描电子显微镜（SEM）图像中分析表面粗糙度是研究材料表面特性的重要方面。表面粗糙度可以影响材料的物理、化学和机械性质，因此准确分析表面粗糙度在材料科学、工程和其他领域中非常重要。

扫描电镜（SEM）的背散射电子（BSE）图像可以用于成分分析。背散射电子是从样品中散射回来的高能量电子，其强度与样品中原子序数的平均值有关。

在扫描电镜（SEM）中，样品如果没有进行喷镀或其他导电处理，可能会出现以下问题：

提高扫描电子显微镜（SEM）图像质量可以通过多种方法和优化操作来实现。

扫描电子显微镜（SEM）的真空度是非常重要的参数，它直接影响电子束的传播和样品的成像质量。

在扫描电子显微镜（SEM）中，调节焦距是获取清晰图像的关键步骤。焦距调节主要是通过控制工作距离（Working Distance, WD）和物镜焦距（Objective Focus）来实现的。

扫描电子显微镜（SEM）结合能量色散X射线光谱（EDS或EDX）技术，能够提供多种成分分析功能。