如何校准扫描电镜的倍率？

校准扫描电镜（SEM）的倍率是确保图像尺寸测量准确可靠的关键步骤。

如何在扫描电镜中精确定位观察区域？

在扫描电子显微镜（SEM）中精确定位观察区域是获得有代表性图像和高质量分析的基础。

样品在扫描电子显微镜（SEM）中的放置角度确实会影响获得的图像质量和信息。

扫描电镜（SEM）图像的尺寸标定是为了确保图像上的距离测量与实际物理尺寸相对应。

样品的偏斜角度会显著影响扫描电镜（SEM）的成像效果。

扫描电镜（SEM）拍摄图像出现拖影（smearing、streaking 或 shadowing），通常表现为图像边缘模糊、重复轮廓或拉长的影子。

判断扫描电镜（SEM）下样品是否被污染，通常可以通过以下几个方面进行观察和分析：

非导电样品在扫描电镜（SEM）中成像时会面临一个主要问题：电荷积累（charging）。因为电子束轰击非导体后，电子无法迅速导出，导致样品表面积累负电荷，从而产生图像漂移、亮度不均甚至成像失败。