扫描电镜的分辨率由什么决定

扫描电镜（SEM）的分辨率指的是能够分辨样品表面上两个最小可分开的特征点的能力，它不是单一因素决定的，而是由电子光学系统、信号特性和样品条件综合影响的。

如何减少电荷效应对扫描电镜成像的干扰

在扫描电镜（SEM）成像中，电荷效应主要出现在非导电样品或绝缘材料上，当电子束照射时，入射电子不能及时泄放，就会在样品表面积累电荷，导致图像发白、漂移甚至局部失真。

在扫描电镜（SEM）中，电子束与样品相互作用时，除了产生成像信号，还可能引起对样品的损伤。

在扫描电镜（SEM）图像中，识别噪声主要依靠观察图像特征、定量分析和实验对比。

在扫描电镜（SEM）中，噪声主要来源于探测器信号的统计波动（电子数有限）和电子学噪声。

扫描电镜（SEM）的成像依赖于电子束与样品相互作用时产生的多种信号，这些信号携带了样品的形貌、成分和结构等信息。

在扫描电镜（SEM）成像中，信号噪声是导致图像模糊、对比度下降甚至细节丢失的重要原因。

在扫描电子显微镜（SEM）中，伪影是指图像中出现的非样品真实结构的信号或形态，它们会误导观察者，通常来源于样品制备、设备本身或成像条件。