样品在扫描电镜中容易充电怎么办？

在扫描电镜（SEM）里，样品容易充电是因为电子束轰击后，样品表面的电子无法及时泄放，累积成电荷，导致图像发亮、漂移、甚至严重失真。

扫描电镜常见的信号有哪些？

在扫描电镜（SEM）里，成像和分析依赖不同类型的电子信号，常见信号主要有以下几种：

在扫描电镜里，样品表面出现充电现象主要是因为样品导电性不足，电子束打到样品表面后，电荷不能及时导走，在局部累积造成的。

亮暗对比是扫描电镜（SEM）图像基本的特征之一。亮暗对比的形成，主要来自样品表面与电子束相互作用后信号的差异。

在扫描电镜（SEM）里，图像是通过电子束扫描和信号采集生成的，像素大小与放大倍数和工作条件直接相关。

扫描电镜（SEM）并不能直接测量样品的厚度，因为 SEM 的成像原理是基于电子束与样品表面相互作用后产生的二次电子。

扫描电镜（SEM）能看到的最小结构，取决于它的分辨率，而分辨率又受电子枪类型、加速电压、样品制备和探测模式等因素影响。

在扫描电子显微镜（SEM）中，电子束与样品相互作用会产生多种信号，不同的检测模式对应不同的物理信息。