展会邀请丨泽攸科技诚邀您参加SEMI-e第六届深圳国际半导体展
6月26日至28日,华南半导体领域具有影响力和代表性的行业盛会SEMI-e 2024第六届深圳半导体展将在深圳国际会展中心(宝安新馆)拉开序幕。
MORE INFO → 公司新闻 2024-06-20
6月26日至28日,华南半导体领域具有影响力和代表性的行业盛会SEMI-e 2024第六届深圳半导体展将在深圳国际会展中心(宝安新馆)拉开序幕。
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台扫电镜(SEM)对样品的颗粒大小并没有严格的要求,但颗粒大小会影响成像效果和分析结果。
MORE INFO → 行业动态 2024-06-20
在使用台扫电镜(SEM)分析样品时,工作距离(working distance, WD)对观察结果有显著影响。
MORE INFO → 行业动态 2024-06-19
扫描电子显微镜(SEM)在低真空和高真空模式下工作时存在一些显著的区别。
MORE INFO → 行业动态 2024-06-18
提高扫描电子显微镜(SEM)的放大倍数是为了观察样品的更细微的结构和细节。
MORE INFO → 行业动态 2024-06-18
中国化学会第34届学术年会于2024年6月15日至18日在广东省广州国际白云会议中心举行。
MORE INFO → 公司新闻 2024-06-17
在科技创新的浪潮中,泽攸科技以其研发实力和创新精神,不断推动着仪器行业的发展。
MORE INFO → 公司新闻 2024-06-17
在扫描电子显微镜(SEM)中,工作距离(working distance,WD)是指电子束枪到样品表面的距离。
MORE INFO → 行业动态 2024-06-14