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扫描电镜非导电样品如何避免电荷积聚

日期:2025-10-10

在扫描电镜(SEM)中观察非导电样品时,电荷积聚是常见问题,会导致图像发亮、漂移或失真。为了避免电荷积聚,可以采取以下几种方法:

样品镀导电层:

使用金(Au)、铂(Pt)、碳(C)等材料在样品表面镀上一层几纳米厚的导电膜,使表面电荷能够快速泄放。

降低加速电压:

通过降低电子束能量(如从 15 kV 降到 1–5 kV),减少电子在样品内部的穿透深度,从而减轻电荷积聚。

使用低真空或环境扫描电镜模式(ESEM):

在低真空模式下,腔体中存在少量气体分子(如水蒸气),这些分子能中和样品表面的电荷。

采用导电胶或导电银漆连接样品:

在样品与样品台之间加导电连接,使电荷能够有效传导至接地系统。

选择合适的观测角度与束流强度:

减小电子束电流密度,或改变入射角,可以减轻局部电荷积累。

使用电子束扫描补偿技术:

一些先进的扫描电镜具有电荷中和或电子束补偿功能,可自动调整电子流量以抵消电荷效应。


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作者:泽攸科技


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