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如果扫描电镜（SEM）图像对比度太低，图像会显得灰蒙蒙、细节不清，无法分辨结构差异。你可以从以下几个方面进行优化：

一、调整显微镜参数（优先）

1. 优化加速电压（kV）

电压过高：会导致电子穿透样品，减少表面信息，对比度下降；

电压过低：信号过弱、噪声大；

建议：尝试调整到 3–10 kV 范围内，根据样品导电性和厚度灵活调整。

2. 调节工作距离（WD）

工作距离影响图像分辨率和景深；

适当缩短 WD，有助于提升表面成像清晰度和对比度。

3. 选择合适的探测器

二次电子探测器（SEI）：擅长显示表面形貌、边缘清晰；

背散射电子探测器（BSE）：能展示成分差异，增强材料对比度；

根据观察目标切换探测器类型。

4. 优化探测器电压/增益

增加对比度设置；

减少亮度设置，避免图像过曝；

一般在 SEM 软件界面中通过滑块实时调节。

二、样品准备方面的优化

1. 改善样品导电性

非导体样品易因带电成像发白、对比度差；

建议进行金属喷镀（如金、铂、碳）；

或使用低电压成像 + 导电胶/导电碳带辅助接地。

2. 样品表面清洁

污染、油脂、水汽都会造成图像灰暗、对比不明显；

建议使用等离子清洗仪、酒精清洗或真空干燥处理样品。

三、图像采集参数优化

1. 增加图像积分时间

提高信噪比，使边缘更清晰，图像更稳定；

适用于非活体样品，注意采集时间不宜过长以免样品损伤。

2. 使用较高分辨率模式

高分辨率下图像细节更加突出，有助于增强视觉对比。