扫描电镜电子束辐射损伤和如何减轻

扫描电镜中的电子束辐射损伤是指样品在电子束照射下受到损害的现象。

扫描电镜中的样品舞台和运动控制

扫描电镜的样品舞台和运动控制是非常重要的组成部分，用于定位、移动和旋转样品，以便进行观察和分析。

扫描电镜的分辨率非常高，通常能够实现亚纳米级别的分辨率。

扫描电镜通常可以用于获得表面拓扑信息。SEM是一种高分辨率显微镜，广泛用于观察和表征材料的表面形貌、纹理和拓扑结构。

许多扫描电镜都配备了可旋转和倾斜的样品台。这些功能对于样品的观察和分析非常有用，因为它们允许在不同方向上查看样品表面，并以不同的角度观察样品的微观结构。

扫描电镜通常适用于成像小至纳米尺度的样品表面，而不适用于大样品的全尺寸成像。

扫描电镜通常允许用户调整对比度和亮度以优化图像的质量和清晰度。

扫描电镜（SEM）的电子源通常有两种主要类型：