扫描电镜能看到多小的结构？

扫描电镜（SEM）能看到的最小结构，取决于它的分辨率，而分辨率又受电子枪类型、加速电压、样品制备和探测模式等因素影响。

扫描电镜常见的检测模式有哪些？

在扫描电子显微镜（SEM）中，电子束与样品相互作用会产生多种信号，不同的检测模式对应不同的物理信息。

扫描电镜（SEM）之所以必须在真空环境下工作，主要有以下几个原因：

扫描电镜（SEM）的像差主要来自电子光学系统中电子束的聚焦与成像缺陷，常见的类型主要有以下几类：

扫描电镜（SEM）是能实现三维重构的，但它本身并不是直接拍 3D 图像的，而是通过一系列手段间接获得三维表面信息。

在扫描电镜（SEM）中，样品充电主要发生在非导电或低导电材料表面，因为入射电子无法及时导走，逐渐积累形成静电电荷，导致图像亮度变化、漂移甚至失真。

扫描电镜（SEM）的样品台常见的运动方式主要包括以下几类，每种运动方式都对应不同的调节需求：

扫描电镜（SEM）能看到的最小结构，取决于显微镜的类型、电子枪性能、探测器类型以及样品制备情况。