扫描电镜如何观察微小机械结构的变形和运动？

扫描电子显微镜（SEM）可以用于观察微小机械结构的变形和运动，尤其在实验室研究和工程应用中具有重要意义。

扫描电镜在表面粗糙度和形貌分析中的作用

扫描电子显微镜（SEM）在表面粗糙度和形貌分析中具有重要作用，因为它能够提供高分辨率的图像，揭示样品表面的微观结构、形态和特征。

扫描电子显微镜是一种强大的显微镜，可以通过电子束而不是光束来成像样品表面的微观结构。

台式扫描电子显微镜（SEM）通常具有样品旋转和倾斜功能，这些功能可以对成像结果产生影响。

使用扫描电子显微镜（SEM）观察微小机械结构的变形和运动需要一些特定的实验设计和技术。

台式扫描电子显微镜（SEM）通常用于在实验室环境中进行样品的表面形貌和结构分析。

扫描电子显微镜（SEM）中的充电效应是一种常见现象，当样品暴露在电子束下时，电子束与样品表面的相互作用会导致电荷积聚，从而引发充电效应，影响图像质量和解释。

在扫描电子显微镜（SEM）图像中，伪影（artifacts）和畸变（distortions）可能会对图像的解释和分析造成困扰。