扫描电镜中如何使用背散射电子增强样品对比度

在扫描电子显微镜（SEM）中，背散射电子（BSE）可以用于增强样品的对比度，尤其是对不同原子序数的材料区分更为显著。

如何在扫描电镜中进行大面积样品的自动化扫描

在扫描电镜（SEM）中进行大面积样品的自动化扫描通常需要以下步骤和技术：

在扫描电子显微镜（SEM）中，加速电压对电子束的穿透深度和样品的表面和深度信息分辨率有显著影响。

在扫描电子显微镜（SEM）中，聚焦电流（或称束流强度）对分辨率和图像清晰度有着重要影响。

在扫描电子显微镜（SEM）中，图像伪影（artifacts）可能会影响图像的质量和分析的准确性。

在扫描电子显微镜 (SEM) 中，二次电子探测器 (Secondary Electron Detector, SE Detector) 是生成图像的主要设备之一，它通过探测从样品表面发射出的二次电子 (Secondary Electrons, SE) 来构建图像。

2024年9月11-13日，第二十五届中国国际光电博览会（CIOE中国光博会）将在深圳国际会展中心举办，泽攸科技将携一众先进科学仪器及新微纳技术领域行业解决方案亮相6D91、6D92展位，我们期待着与各位新老朋友们见面，也希望通过此次机会与业内同仁、专家们共同交流探讨、共商合作、互利发展。

在扫描电镜（SEM）中，光束调制是指通过调整电子束的各种参数（如束流强度、扫描速度、加速电压等）来影响成像的过程。