扫描电镜主要用于观察什么类型的样品

扫描电子显微镜（SEM）主要用于观察表面形貌和微观结构，特别是对于那些无法被光学显微镜所分辨的微小结构提供了高分辨率的图像。

扫描电镜图像中的伪影是如何产生的

扫描电镜图像中的伪影可能由于多种因素导致，这些因素包括样本准备、电镜操作、图像获取和处理等。

扫描电镜（SEM）通常用于获取高分辨率的表面形貌图像，但它本身并不提供深度信息。

在扫描电子显微镜（SEM）中，次级电子图像是通过探测样品表面产生的次级电子而获得的图像。

扫描电镜（SEM）是一种利用电子束来观察样品表面微观结构的仪器。

样品的选择对扫描电镜（SEM）成像有着重要的影响，因为不同的样品特性和性质需要不同的处理和准备方法。

扫描电子显微镜（是一种利用电子束替代光子束来实现高分辨率成像的显微镜。

提高扫描电镜的空间分辨率涉及多个因素，以下是一些可能的方法：