扫描电镜样品的导电性对成像参数有何影响

扫描电镜（SEM）中样品的导电性对成像参数有重要影响。

扫描电镜中低扫描速度与高扫描速度在样本成像中有何不同？

低扫描速度和高扫描速度在样本成像中有不同的影响和应用：

在扫描电镜中选择合适的扫描速度是关键，因为它直接影响到图像质量和分辨率。

要避免样品在扫描电镜（SEM）中受到辐射损伤，可以采取以下措施：

在选择适合的探针和检测器进行扫描电镜（SEM）分析时，需要考虑要研究的样品性质、所需分辨率、表面拓扑特征和所需信号类型。

EDS（能谱分析）是一种在扫描电镜中常用的分析技术，它的主要作用是通过检测样品产生的X射线来进行元素分析。

扫描电镜中的低真空模式是一种操作模式，通常用于特定样品或情况下，具有一些特定的作用和优势：

扫描电镜在材料疲劳和断裂分析中发挥了关键作用。