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扫描电镜图像出现局部过曝，说明局部信号强度过高，已经超过探测器或显示范围，需要从成像参数和样品状态两方面来处理。

先从亮度和对比度入手。适当降低亮度或探测器增益，避免强信号直接被拉到饱和区。不要只调对比度，否则容易把正常区域压暗，却仍然保留过曝区域。

再看束流和加速电压。束流过大是局部过曝的常见原因，尤其在高倍观察时。可以适当降低束流或加速电压，让电子与样品的相互作用减弱，亮区就不会那么刺眼。

检查样品是否存在充电效应。非导电区域容易积累电荷，导致局部信号突然增强，看起来像过曝。改善方法包括喷金、喷碳、降低加速电压或使用低真空模式。

调整扫描参数也很有效。减慢扫描速度、启用线平均或帧平均，可以平滑信号，减少瞬时高亮点造成的过曝。如果是快速扫描导致的亮度跳变，这一步效果很明显。

选择合适的探测器。二次电子探测器对边缘和突起非常敏感，容易出现亮斑。如果局部过曝严重，可以尝试切换到背散射电子成像，亮度分布通常更均匀。

之后要考虑样品本身的形貌和成分差异。尖锐边缘、高原子序数区域本身就会更亮，这不是设备问题，而是成像对比特性。此时应通过参数平衡整体，而不是强行“压亮”。

实际操作中，建议在目标放大倍数下，先调束流和亮度，再微调对比度，检查充电和扫描方式。这样既能压住过曝，又不至于丢失暗区细节。