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绝对会影响。扫描电镜（SEM）的工作距离（WD，即样品表面到电子枪下透镜末端的距离）对成像质量有很大影响，原因主要体现在以下几个方面：

景深变化

工作距离越长，景深越大；工作距离越短，景深越小。高放大观察时，如果工作距离太短，景深不足，样品表面微小高低差就会导致局部失焦。

分辨率变化

工作距离短时，电子束束斑（spot size）可以更小，理论分辨率更高；工作距离长时，束斑略大，分辨率会下降。

信号收集效率

电子探测器（SE、BSE）与样品的相对位置固定。工作距离变化会改变信号入射角和收集几何，影响二次电子或背散射电子的检测效率，表现为亮度或对比度变化。

像差和像面变化

透镜系统设计通常有最佳工作距离（Optimum WD），偏离会引入球差或像面弯曲，导致图像模糊或畸变。

深高低差样品表现

对于表面起伏大的样品，长工作距离有利于整个区域同时在焦平面内，但可能牺牲分辨率；短工作距离适合局部高分辨率成像，但景深有限。