中文
English

在扫描电镜（SEM）成像时，如果样品边缘特别亮，这是一个非常常见的现象，通常由以下几个主要原因造成：

1. 边缘效应（Edge Effect）——二次电子增强发射

在 SEM 中使用二次电子（Secondary Electrons, SE）成像时：

边缘、尖角、表面突起等区域，因为曲率较大或暴露面较多；

会比平坦区域发射出更多的二次电子；

这些增强的电子信号被探测器接收，就形成了“特别亮”的成像效果。

这是一种物理现象，不是图像错误，而是有助于增强样品细节对比的机制。

2. 样品带电效应（Charging）也可能导致边缘亮

对于不导电或导电性差的样品（如聚合物、陶瓷、无喷镀处理的材料）：

边缘区域更容易积聚电荷；

导致电子束局部偏转，产生异常电子发射；

成像时在边缘或角落位置出现异常发亮、发白、甚至闪烁。

解决方法包括：

喷金或喷碳提高导电性；

降低电子束电流（beam current）；

使用低电压成像；

使用环境电镜（ESEM）减少带电。

3. 探测器位置与样品几何关系影响亮度

如果二次电子探测器位于样品上方某一侧；

那么倾斜或边缘面朝向探测器的区域就会更亮；

背离探测器的一侧则可能变暗。

4. 图像对比度与增益设置过高

有时图像信号放大设置（Gain）过高，也会把正常的边缘增强放大得过于明显；

可通过调整图像对比度（Contrast）或亮度（Brightness）来缓解。