如何在扫描电镜中避免或减少样品在成像过程中的伪影

在扫描电子显微镜（SEM）成像过程中，样品可能出现伪影，这可能是由于电子束与样品相互作用引起的。

扫描电镜在非导电样品观察中的处理方法有哪些

在扫描电子显微镜（SEM）中，非导电样品通常会导致电荷堆积和图像模糊，因为电子束与样品相互作用导致电子的发射和堆积。

扫描电镜（SEM）通常可以成像非导电样品。相较于传统的透射电子显微镜，SEM对于样品的导电性要求较低。

扫描电子显微镜可以用于化学分析，尤其是表面分析。然而，SEM本身并不直接提供化学信息。

在扫描电子显微镜（SEM）中，EDS 指的是能谱分析。EDS 是一种用于分析样品中元素成分的技术，通过测量样品在电子束照射下产生的X射线来实现。

在扫描电子显微镜中，需要涂覆导电层的主要原因是提高样品的导电性。

扫描电镜是一种使用电子束来高分辨率地成像样品表面的仪器。

扫描电镜的分辨率是指它能够在图像中可分辨出的细节程度，通常以线对线或点对点的距离来表示。