倒计时丨泽攸科技场发射台扫即将亮相2024年全国电子显微学学术年会

深入理解先进材料的微观形貌、结构和化学成分是科研和产品开发的关键所在。

如何在扫描电镜中进行多区域的自动化成像？

在扫描电子显微镜 (SEM) 中进行多区域的自动化成像是提高效率和准确性的重要方法，尤其是在对多个样品区域进行批量分析时。

在扫描电子显微镜 (SEM) 中，对某些敏感样品进行冷冻处理可以显著减少电子束损伤，特别是对一些生物样品、聚合物或其他低导电性材料。

在扫描电子显微镜（SEM）中，通常只能看到样品的表面结构，因为SEM主要依赖表面电子的相互作用来产生图像。

在扫描电子显微镜（SEM）中，样品的导电性对成像效果有很大的影响。对于非导电样品，如生物样品、陶瓷或高分子材料，常常需要进行镀膜处理来提高导电性，从而防止电荷积累，减少图像伪影。

样品杆的材质选择对实验结果有重要影响，特别是在扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）等仪器中进行高精度分析时。

使用扫描电子显微镜（SEM）测量样品的形貌和尺寸是其常见的应用之一。

使用扫描电子显微镜（SEM）检测样品中的孔隙和缺陷是一种常用的方法，尤其在材料科学、金属加工、半导体和纳米技术等领域中广泛应用。