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倒计时丨泽攸科技场发射台扫即将亮相2024年全国电子显微学学术年会

日期:2024-10-16

深入理解先进材料的微观形貌、结构和化学成分是科研和产品开发的关键所在。不论是从事下一代创新材料的研究,还是致力于提升产品开发和制造水平,掌握材料的微观特性都是至关重要的。为了助力科研人员更深入地理解材料的微观世界,泽攸科技即将在10月17日的2024年全国电子显微学学术年会上隆重推出创新产品——ZEM Ultra场发射台式扫描电镜。 

泽攸科技

ZEM Ultra台式扫描电子显微镜,继承了ZEM系列一贯的优良传统,不仅具有快速成像、全自动操作等特点,具备抗震性和稳定性。ZEM Ultra配备了高亮度肖特基场发射电子源,能够提供2纳米分辨率的图像,并且支持高达50万倍的放大倍数。这款电镜不仅可以进行二次电子(SE)成像,还能进行背散射电子(BSE)成像,并兼容能量色散X射线光谱仪(EDS)和电子背散射衍射(EBSD),为用户提供丰富的分析手段。无论是金颗粒还是碳纳米管,无论是磷酸铁锂还是二氧化硅,ZEM Ultra都能轻松应对,为科学研究提供强大的工具支持。

二氧化硅与磷酸铁锂案例展示

二氧化硅与磷酸铁锂案例展示

碳纳米管与钨粉案例展示

碳纳米管与钨粉案例展示

这款设备展示了泽攸科技对于技术创新的不懈追求,我们诚挚邀请您莅临2024年全国电子显微学学术年会,共同见证泽攸科技新品的发布,探索微观世界的无限可能。

以上就是泽攸科技场发射台扫即将亮相2024年全国电子显微学学术年会的介绍。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)

泽攸科技


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作者:泽攸科技