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扫描电镜中的电子束与样品相互作用可能导致多种影响和损伤，这取决于电子束的能量、强度和样品的性质。以下是一些可能出现的影响和损伤：

电子束散射和吸收： 电子束在与样品相互作用时可能会发生散射和吸收。这些过程可以导致成像中的对比度变化，尤其是在厚样品中。

样品加热： 电子束的能量会被样品吸收，导致样品升温。这对于热敏感样品来说可能是一个问题，因为高温可以引发样品的结构变化或破坏。

表面电荷： 电子束可以引起样品表面的电子排列变化，导致表面电荷的积累。这可能影响成像的对比度，并导致图像中的伪影。

辐射损伤： 高能电子束可以损伤样品的结构，尤其是有机材料。这种损伤包括断键、氧化和结构退化。

充电和电子漂移： 电子束对样品的电荷引起充电效应，可能导致样品的电子漂移，影响成像的稳定性。

离子化和排出气体： 在高能电子束作用下，样品可能会发生气体解吸和离子化，导致真空系统内的气体排放，影响成像和分析。

伪影和伪结构： 样品的电子束散射和吸收可能会产生伪影和伪结构，影响成像的解析度和准确性。

样品漂移： 电子束可以引起样品的微小位移，尤其是对于不稳定的样品来说，这可能导致图像模糊或失真。

ZEM20台式扫描电镜

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜中的电子束对样品有哪些影响和损伤。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。