常见问题每一个设计作品都精妙

当前位置: 主页 > 新闻资讯 > 常见问题

扫描电镜如何测量样品的尺寸、形状和表面形貌等参数?

日期:2023-05-22

扫描电镜(SEM)可以用于测量样品的尺寸、形状和表面形貌等参数。以下是一些常见的方法和技术:

图像测量:使用SEM获取样品表面的图像,并使用图像处理软件进行测量。可以使用标尺或已知尺寸的参考物体作为比例尺,然后在图像中测量感兴趣的尺寸,如长度、宽度、直径等。这种方法适用于二维图像。

线扫描和轮廓测量:通过在样品表面上绘制线扫描或轮廓,然后使用SEM观察并测量线的长度、形状等参数。这可以用于测量边缘的形状、凹凸等。

表面粗糙度测量:使用SEM观察样品表面的微观特征,并使用专业的表面分析软件对表面粗糙度进行定量测量。

断面观察和测量:通过对样品进行横截面切割,然后使用SEM观察并测量断面的形状、厚度等参数。这适用于测量多层样品的层厚、纳米线的直径等。

三维重建:通过获取多个不同角度或焦平面的SEM图像,并使用三维重建软件生成样品的三维模型。这可以用于测量样品的体积、表面形貌、孔隙度等参数。

高分辨率成像和放大:使用SEM的高分辨率成像功能观察样品表面的微观结构和特征,并使用放大功能进行细节的放大观察和测量。

在进行测量前,确保SEM仪器校准良好,并了解SEM系统的参数设置和图像处理软件的使用方法。此外,样品的预处理、适当的取样和样品固定也对测量结果的准确性和可靠性至关重要。

ZEM15台式扫描电镜能谱一体机

ZEM15台式扫描电镜能谱一体机

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜如何测量样品的尺寸、形状和表面形貌等参数。更多扫描电镜信息及价格请咨询15756003283(微信同号)

扫描电镜产品联系方式


TAG:

作者:泽攸科技