扫描电镜的真空系统如何影响成像效果

扫描电子显微镜（SEM）的真空系统对成像效果有着重要的影响，因为SEM的基本工作原理依赖于电子束与样品相互作用，而这些相互作用需要在高真空环境下进行。

扫描电镜的图像伪影产生的原因和减少方法

在扫描电子显微镜（SEM）成像过程中，伪影（artifacts）是指非原生的图像特征，它们并不反映样品的真实结构或成分。

在扫描电子显微镜（SEM）中，工作距离（Working Distance, WD）是指电子枪发射出的电子束聚焦到样品表面之间的距离。

在扫描电子显微镜（SEM）中，低导电性的样品通常会引发一系列问题，主要是由于电子束与样品相互作用时产生的电子无法有效地从样品中逸出，导致样品表面积累电荷。

在扫描电子显微镜（SEM）中，分析样品表面的化学成分通常依赖于能量色散X射线光谱（EDS 或 EDX）或波长色散X射线光谱（WDS）等附加检测器。

在扫描电子显微镜（SEM）中，工作距离（Working Distance, WD）是指样品表面到物镜（聚焦透镜）的距离。

在扫描电子显微镜（SEM）中，测量颗粒的大小和分布通常需要结合图像采集和后期图像处理分析。

在扫描电子显微镜（SEM）中，表面粗糙度的测量可以通过以下几种方式实现。