如何在扫描电镜中测量颗粒的大小和分布

在扫描电子显微镜（SEM）中，测量颗粒的大小和分布通常需要结合图像采集和后期图像处理分析。

如何在扫描电镜中进行表面粗糙度的测量

在扫描电子显微镜（SEM）中，表面粗糙度的测量可以通过以下几种方式实现。

优化扫描电子显微镜（SEM）的焦距以获得清晰图像是操作SEM时的一个关键步骤，通常包括以下几个方面的操作和调整：

通过扫描电子显微镜（SEM）检测样品的孔隙结构是研究材料微观结构的重要手段，特别适用于多孔材料、岩石、催化剂、陶瓷、聚合物等样品。

在扫描电子显微镜（SEM）中检测样品表面的微裂纹，是研究材料表面缺陷的重要手段。

在扫描电子显微镜（SEM）中，分析样品的断裂面可以提供关于材料内部结构、断裂模式和失效机制的重要信息。

在扫描电子显微镜（SEM）中，选择适当的加速电压是确保高质量成像和准确分析的关键。

在扫描电子显微镜（SEM）中，背散射电子（BSE）可以用于增强样品的对比度，尤其是对不同原子序数的材料区分更为显著。