扫描电镜能提供哪些类型的图像？

扫描电镜（SEM）可以提供多种类型的图像，涵盖不同的信息和样品特征。

扫描电镜的样品需要做真空处理吗？

扫描电镜（SEM）中的样品通常需要在真空环境中进行处理。这是因为扫描电镜的工作原理依赖于高能电子束与样品的相互作用，而高能电子束在空气中会迅速散射或吸收，无法有效地穿透和与样品发生作用。

扫描电镜（SEM）的样品台通常可以倾斜，这一功能对于获得高质量成像效果和分析结果非常重要。

在扫描电镜（SEM）中，样品涂层是常见的样品制备步骤之一，尤其是对于非导电样品。

在扫描电镜（SEM）中，像差会导致图像失真、模糊或细节丢失，从而影响成像质量。判断像差问题的方法包括观察图像特征、检查显微镜设置以及分析不同像差类型的特定表现。

扫描电镜（SEM）通过断层成像可以获得样品内部的三维结构信息。这种方法通常被称为聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）断层成像，或者是通过特定的软件结合多视角图像进行重建。

在扫描电镜（SEM）中，对于低对比度样品，通常难以清晰观察细节。低对比度的原因可能是样品表面形态较为平坦或材料对电子束的响应较弱。

样品制备对扫描电镜（SEM）成像结果的影响非常大，因其直接影响到图像的质量、分辨率、对比度以及成像的稳定性。