泽攸科技ZEM系列扫描电镜 | 稀土镁合金在不同载荷下的变形与失效机制

泽攸科技ZEM系列扫描电镜是一款集成度高、便携性强且经济实用的科研设备。它具备快速抽真空、高成像速度、多样的信号探测器选择，适用于形貌观测和成分分析，还能适配多种原位实验需求。

尺度效应的正反面：纳米并不是“更小就更好”

无论是通过ZEM系列扫描电子显微镜观察微观结构，还是借助JS系列台阶仪量化薄膜参数，这些工具的价值都在于让工程决策建立在可验证的数据之上。

泽攸科技作为中国本土的精密仪器公司，是原位电子显微镜表征解决方案的一流供应商，推出的PicoFemto系列的原位透射电子显微镜表征解决方案，陆续为国内外用户的重磅研究成果提供了技术支持。

以泽攸科技的二维材料转移台，它融合成像、加热、吸附、多轴协作等功能，是实验室构建范德华异质结构的重要工具。

泽攸科技作为中国本土的仪器公司，是原位电子显微镜表征解决方案的一流供应商，推出的PicoFemto系列的原位透射电子显微镜表征解决方案，陆续为国内外用户的重磅研究成果提供了技术支持。

从NanoMi到泽攸科技，我们看到了一条清晰的技术进化路径。NanoMi以开源的精神，向我们揭示了电子光学的第一性原理：用静电场构建透镜，用电压控制轨迹。

泽攸科技JS系列台阶仪作为国产高精度表面测量设备的代表，凭借其创新的技术架构、灵活的应用场景及可靠的测量性能，可以对微纳结构进行膜厚和台阶高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。

长期以来，电子显微镜被视为精密仪器皇冠上的明珠，但其庞大的体积、高昂的造价以及复杂的维护体系，使其成为一个令普通实验室望而却步的“黑盒”。