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台式扫描电镜的样本大小和类型的限制

日期:2023-11-02

台式扫描电镜(SEM)通常有一些样本大小和类型的限制,虽然这些限制因不同型号和制造商而异,但以下是一些一般性的考虑:

样本大小:台式扫描电镜通常适用于较小的样品。典型的样品大小范围可能从亚微米级别到几毫米。如果样品过大,可能需要特殊的支架或减小样品尺寸以适应SEM的舞台。

导电性:台式扫描电镜需要样品具有一定的导电性,以便有效地排除电子束的电荷,并产生高质量的成像。非导电性样品可能需要涂覆导电性材料,如金属或碳,以进行观察。

真空要求: 操作需要在真空或减压环境中进行,因此某些样品可能需要在SEM室内进行处理。此外,样品须耐受真空环境。

干燥和准备: 湿润或多孔的样品可能需要事先干燥和准备,以确保在SEM中获得清晰的图像。此外,一些样品需要特殊的固定或包埋处理。

透射样品: 通常用于表面成像,而非透射成像。这意味着只能观察样品表面,不能看透或穿透样品。

样品形状: 通常适合于坚固和平坦的样品,不适用于液体或气体样品。某些特殊夹具可以用于观察柔软或非平坦的样品。

ZEM20台式扫描电镜

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作者:泽攸科技