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在扫描电镜中，电子束与样品之间的距离是一个重要的参数，通常称为工作距离或工作距离。这个距离对SEM成像的质量和性能有显著的影响，以下是一些影响：

成像分辨率： 工作距离会影响SEM的成像分辨率。通常情况下，较小的工作距离可以提供更高的分辨率，因为电子束更聚焦。如果工作距离过大，分辨率可能会下降。

深度和对焦范围： 工作距离也会影响对焦范围，即样品上下表面的焦平面深度。较大的工作距离通常意味着更深的对焦范围，使您能够观察不同深度的样品部分。

信号强度： 较小的工作距离可以提供更高的二次电子和反射电子信号强度。这对于获得清晰的图像和更好的样品导电性很重要。

样品表面和几何： 样品的表面形状和几何特性也会影响工作距离的选择。复杂的样品可能需要不同的工作距离以获得更全的信息。

放大倍数： 工作距离通常会随着放大倍数的增加而变化。较高放大倍数通常需要较小的工作距离。

在SEM操作中，操作员通常需要选择适当的工作距离以满足特定应用的需求。这通常需要一些实验和调整，以获得高质量的成像结果。如果工作距离选择不当，可能会导致分辨率下降、对焦困难或信号强度不足。因此，操作员需要在使用SEM时具备一定的经验和技能。

ZEM20台式扫描电镜

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜中的电子束与样品之间的距离影响。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。