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扫描电镜通常可以用于获得表面拓扑信息。SEM是一种高分辨率显微镜，广泛用于观察和表征材料的表面形貌、纹理和拓扑结构。以下是SEM用于获得表面拓扑信息的一些关键方面：

高分辨率成像： SEM能够提供高分辨率的图像，可以显示微小细节和表面特征。这使得它非常适合观察和分析微观和纳米尺度的表面结构。

三维表面拓扑： SEM通常可以生成带有深度信息的表面拓扑图像。这通过不同角度的电子束扫描来实现，使观察者能够看到表面的三维结构。

表面形貌分析： SEM图像可以用于分析表面的形状、纹理、孔隙度、颗粒分布等。这对于材料科学、纳米技术、生物学等领域的研究非常重要。

样品预处理： 在进行SEM观察之前，通常需要对样品进行适当的预处理，如金属喷涂、冷冻切割、表面清洁等，以确保获得高质量的图像和准确的拓扑信息。

成像模式： SEM可以在不同成像模式下操作，包括二次电子成像（SEI）和反射电子成像（BEI）。这些模式可以提供不同角度的表面信息，有助于更详细地了解样品的拓扑特性。

ZEM18台式扫描电镜

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