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在扫描电镜（SEM）中，探针和探头是两个不同的概念，它们用于描述电子束与样品之间的相互作用。

探针（Probe）：探针通常指的是电子束在样品表面聚焦形成的非常细小的电子束。这个电子束用于扫描样品表面并与样品相互作用。探针的直径可以调整，通常可以达到几纳米到数十纳米的量级，具体取决于仪器的设置和需求。探针的聚焦和定位对于获得高分辨率的图像和准确的分析结果非常重要。

探头（Detector）：探头是用于检测样品表面反射或散射的信号的装置。在扫描电镜中，有多种类型的探头用于接收不同类型的信号。常见的探头包括次级电子探头（Secondary Electron Detector）和后向散射电子探头（Backscattered Electron Detector）。次级电子探头用于检测样品表面产生的次级电子信号，这些电子是由电子束与样品表面的原子和分子相互作用产生的。后向散射电子探头用于检测由电子束与样品表面相互作用后，被散射回到探头的电子信号。这些探头接收到的信号经过处理和放大后，可以形成样品表面的图像。

需要注意的是，探针和探头是两个不同的概念，探针是指电子束，而探头是指用于检测信号的装置。

ZEM15台式扫描电子显微镜

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